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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hokuga.hgu.jp/dspace/handle/123456789/4755

Title: 層間横磁気抵抗測定による層状導体のフェルミオロジーおよび異方的面内キャリア伝導の研究
Other Titles: Study of Fermiology and Anisotropic In − Plane Carrier Conduction in Layered Conductors Using Inter − layer Transverse Magnetoresistance Measurements
Authors: 菅原, 滋晴
SUGAWARA, Shigeharu
Issue Date: 12-Jan-2024
Publisher: 北海学園大学工学部
Citation: 北海学園大学工学部研究報告
Series/Report no.: 51
URI: http://hokuga.hgu.jp/dspace/handle/123456789/4755
ISSN: 02865262
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